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商品説明
二次イオン質量分析法の基礎と応用に関する専門書。- タイトル: 表面分析:SIMS- 著者: D. ブリッグス, M.P. シーア- 定価: 8500円- 出版社: アグネス承風社ご覧いただきありがとうございます。透明のブックカバーを付けて使用しておりました。そのまま付けて発送予定です。20年以上前に発行された本かつ、古本にご理解のほどお願いします。中身は美品だと思います。。はな。NN桜蔭合格への道 入試対策資料 2026最新。公務員試験 LEC (ほぼ)完全版 技術系公務員 技術 土木職 工学の基礎。TSUBASA 小学校受験学習参考書 NO.1-5 セット。最新版 DESデンタル 119回の口腔外科と総合医学 予測問題集。サピックス SAPIX 6年 算数 テキスト 平常・春・夏・冬講習 2018年お店の情報
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